測(cè)試系統(tǒng):支持并發(fā)多工位測(cè)試

統(tǒng)一的測(cè)試平臺(tái), 可用于各種電路板項(xiàng)目的測(cè)試, 測(cè)試平臺(tái)可完成以下測(cè)試:

通過(guò)DMM測(cè)量電源對(duì)地的阻抗, 確保安全上電;

檢測(cè)待測(cè)電路板的Power Up Sequence, 讀取各個(gè)電壓值, 確認(rèn)電路板供電正常;

檢測(cè)JTAG IC之間的互聯(lián), 以檢測(cè)電路板上IC管腳是否存在開(kāi)路, 短路的狀況;

支持JTAG IC周邊器件的測(cè)試, 包括DDR, DDR2, DDR3 SDRAM, EMMC, Buffer, Switch, LED, I2C器件等等, 以驗(yàn)證它們的功能是否正常;

支持NOR Flash, Nand Flash, SPI Flash, EEPROM, CPLD的測(cè)試以及在線(xiàn)編程(In-System-Programming);

通過(guò)DIO System來(lái)檢測(cè)電路板上的Connector是否存在開(kāi)路, 短路的狀況;